一、仪器特点：

●探测器固定照相，区别于传统扫描型衍射仪，照相模式高效快捷，较扫描模式快约 5-30 倍，适合做原位分析， 各角度衍射信息同一时间收集；高能量分辨率 ,有效降低荧光本底。

●测角仪θs、θd 臂采伺服电机驱动+光学编码控制技术，探测器可沿 2θ轴做双位置移动， 测角仪转动更平稳，衍射角度测量更准确，线性度更好。样品沿θ轴旋转，控制精度 0.01°,2 θ轴角度准确度±0.02°。

●配置多片探测器单元组成探测器组件，沿衍射圆均匀固定分布，全角度无缝覆盖；双层 21 片(或单层 10 片)面阵探测器，覆盖 2θ范 围： -3°~150°，2D 成像，同时收集γ角度 信息，二维衍射数据，信息更丰富。

●X 射线面阵型光子计数半导体探测器，高灵敏，可实现单光子计数，动态范围大，双阈值； 点、线光源互换，徳拜谢乐与 BB 光学几何兼备，平面、柱状样品兼容，探测器 2D、1D、OD 模式兼容。且抗强辐射长时照射，使用寿命长。

●散射线防护装置更安全可靠，样品测量时射线防护门自动禁止打开，任何情况下都能避免 操作人员受到散射线辐射。

●紧凑的尺寸可以安装在实验台上，不需要特定的实验室环境。使用、操作维护简单。

二、设备各部分主要技术指标